9812DX 高級低頻噪聲分析儀為半導體研究提供高精度和高效的噪聲功率譜密度分析和時域噪聲測量，用于高級工藝優(yōu)化，用于設計驗證和電路評估的建模。
閃變噪聲（1/f 噪聲）和隨機電報噪聲（RTN 或 RTS）測量和分析的全部功能

適應較寬的阻抗測量范圍，滿足寬電壓和電流工作條件下對新材料、新器件和集成電路的各種要求

晶圓級高性能和寬帶寬測量，電流噪聲分辨率高達 10-27A2/赫茲

強大的數(shù)據分析和管理功能，具有易于使用的內置測試應用程序庫和直觀的圖形用戶界面

與 Primarius 半導體參數(shù)測試系統(tǒng) FS-Pro 配合使用，提供并行測試框架解決方案，顯著提高測試效率和吞吐量